Servicios
La técnica de difracción de rayos X de monocristal permite la
determinación estructural de las sustancias que componen el cristal objeto
de la medida.
La determinación estructural permite obtener la densidad electrónica y
las posiciones atómicas de los componentes del cristal.
La unidad puede realizar todas las operaciones necesarias para llevar a
cabo dicha determinación estructural:
- selección de un cristal apropiado para la medida
- montaje del cristal
- determinación de su cristalinidad y parámetros de la celda unidad
- recogida de datos, tanto a temperatura ambiente como a baja
temperatura
- determinación de la configuración absoluta
- reducción de datos
- resolución y afinamiento
- convalidación de los resultados y preparación para su publicación
La configuración del difractómetro permite realizar la determinación
estructural de compuestos organometálicos de cualquier tamaño e, incluso,
de sustancias macromoleculares de tamaño moderado.
Si desea realizar alguno de estos servicios, proceda a la sección de
usuarios.
Las
tarifas
actuales del servicio se encuentran publicadas en el sitio web de los
Servicios Científico Técnicos
Equipamiento
El equipamiento principal de la unidad es un difractómetro Rigaku Oxford
Diffraction Xcalibur Nova equipado con un criostato Oxford Cryojet.
El difractómetro Rigaku Oxford Diffraction Xcalibur Nova
El difractómetro cuenta con:
- una fuente de rayos X de microfoco y radiación de cobre.
- goniómetro de cuatro círculos de geometría kappa.
- detector de área CCD Onyx de 165 mm.
La información de las características del difractómetro en formato
CIF se puede
encontrar aquí.
El criostato Oxford Cryojet
El difractómetro cuenta con un criostato Oxford Cryostream. Es un
criostato de flujo abierto que, usando nitrógeno, permite ajustar y
controlar la temperatura de la muestra durante la recolección de
datos.
La regulación de la temperatura permite
- evidentemente, realizar mediciones a distintas temperaturas,
estudiando cómo esto afecta a la estructura cristalina.
- reducción del daño al cristal durante la medida a muestras
especialmente sensibles, ya sea a la radiación suministrada, ya sea
por la exposición a una atmósfera no inerte.
- disminución de la agitación térmica de los contenidos del
cristal, con lo que se obtiene una medida de más precisión.